蔡司是全球領先的能在實驗室儀器中提供 50 nm 分辨率無損三維 X 射線成像解決方案的廠商。除吸收襯度和 Zernike 相襯技術外，蔡司 Xradia 810 Ultra 還運用了改裝自同步加速器的先進光學器件，用以為研究提供業界出眾的分辨率和襯度。通過在傳統成像工作流程中加入關鍵的無損分析步驟，從而讓這款創新型儀器實現了研究領域的突破。
  蔡司X射線顯微鏡Xradia 810 Ultra三維顯微鏡能夠利用 5.4 keV 下的更高襯度對大量難于成像的材料進行高分辨率 X 射線成像。借助吸收襯度和相襯技術來優化大量材料的成像，如聚合物、氧化物、復合材料、燃料電池、地質樣品及生物材料等。在先進的同步加速器實驗室內首次引入納米級 X 射線成像技術，蔡司 XRM 開創性解決方案始終讓您走在科學研究的前列。